《科創(chuàng)板日?qǐng)?bào)》20日訊，美國(guó)芝加哥大學(xué)研究人員開發(fā)出一種創(chuàng)新性的存儲(chǔ)技術(shù)，利用晶體內(nèi)的單原子缺陷來(lái)表示數(shù)據(jù)存儲(chǔ)中的二進(jìn)制數(shù)“1”和“0”，將幾個(gè)太字節(jié)（TB）的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在邊長(zhǎng)僅為1毫米大小的晶體立方體中。相關(guān)論文發(fā)表在最新一期《納米光子學(xué)》雜志上。